TeraSight®E6400 射频芯片通用测试机

·通用架构，模块化设计：采用 8U 标准机箱与 6U 功能板卡架构，轻松实现模块化组合与资源按需配置。 ·紧凑空间，降本增效：极致紧凑设计，大幅降低场地占用需求；减少冗余配置，有效控制整体测试成本。 ·量产专用，全域兼容：专为射频芯片大规模量产设计，完美适配生产线批量测试需求，兼容市场主流分选机。 ·一键自动化，灵活便捷：内置 S1000 自动化测试软件，操作灵活方便，高效驱动批量测试流程。

TeraSight® E6500高通量射频SoC测试机

·全能覆盖，混合信号：兼具强大射频测试能力与混合信号测试实力，一站式支持CP、FT、SLT全场景测试，覆盖从设计验证到量产的全流程。 ·超高通量，并行测试：灵活的射频/数模资源配置框架，支持单芯片与多芯片并行测试，大幅提升测试效率，降低开发复杂度。 ·全域互联，开放架构：标配标准化接口与开放软件架构，轻松对接主流分选机/探针台，并支持硬docking与自定义测试用例导入。

射频混合芯片测试机E6600

射频混合芯片测试机E6600（RF SoC Tester E6600） 是一款自主设计的射频片上系统（RF SoC）芯片测试机，支持各类多功能射频/模拟/数字混合集成功能芯片的晶圆级、封装级和系统级测试。该款机台专为量产测试需求而开发。

TestSpirit® S1000智能测试软件

TeraSight RFMU 2.0射频激励与测量单元

RFMU可为DUT射频信号激励、射频信号测量和S参数测试功能。其频率最高可达6GHz，支持多种调制信号和通信协议，提供强大的射频参数测量能力。

TeraSight® 器件供电与测量单元DPSU

​器件供电与测量单元DPSU（Device Power Supply unit,以下简称DPSU）是一款高速、高精度的电源板卡，可以为DUT提供高精度FV激励，同时具备对DUT进行精密测试的功能。具有多通道，高精度，多触发方式等特点。适用于MXI1.0接口，可搭配铭剑电子发布的TeraSight® E6500系列测试机使用。

TeraSight® 管脚参数与测量板卡PPEU

PPEU是一款能实现管脚参数与测量的板卡，具有32个单独通道，可配置为单端或者差分模式，工作在600MHz带宽，1.2Gbps数据速率，用于执行驱动器、比较器和有源负载（DCL），每个通道提供四象限单引脚参数测量单元（PPMU）的引脚电子功能测试。采用千兆网络进行通信，适用于MXI1.0接口。

TeraSight® E6300模块化高频高速仪表

·核心性能：支持频率覆盖最高至 67 GHz，可扩展至太赫兹（1 THz）级别，满足超高精度测试需求。 ·场景适配：覆盖晶圆、裸芯片、多维度测试场景，适配 SiP 模组、RF 模组等多类设备接入。 ·信号处理：集成全频段 RF 信号生成、分析与测量功能，兼容模拟信号处理，贯通教学、野外、量产全流程 ·扩展能力：支持客户二次开发，可自定义用例扩展，灵活适配各类应用场景需求。