射频芯片测试机E6500(RF Semiconductor Tester E6500) 是一款拥有强大射频测试能力的芯片测试机,支持复杂的射频功能芯片的晶圆级、封装级和系统级测试。高通量配置使其可以很好地适应量产环境的要求。

E6500灵活的射频和模拟配置框架可用于单站点或多站点的测试,面对客户不同的指标要求支持不同的现场集成配置。开放化软件架构支持不同测试用例类型的导入。

技术参数
技术指标

射频

•基础频率10-6000MHz,可扩展22GHz/44GHz/110GHz/500GHz

•基础测试功率:-120~10dBm,扩展至30dBm@44GHz

•射频测试端口高达64路;

•支持射频芯片、RF FEMRF数模混合芯片、RF SoC芯片及RF SLT测试;

•支持测试站点互联、分选机和探针台集成测试;

数字

•数字带宽大于100MHz,可扩展至4GHz

•支持与其他仪器之间的时钟同步;

•最高可配置512通道;

模拟

电流范围5uA~1A/,可扩展至2A

•电压范围:-2~+6VDC/,可扩展至20VDC

•最高可配置:256通道


具体参数(具体参数内容仅针对高级用户开放)
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