共襄盛举!中国检测技术与半导体应用大会圆满闭幕

发布日期: 2024-07-26浏览次数:

2024年7月12日,备受瞩目的“2024中国检测技术与半导体应用大会暨半导体分析检测仪器与设备发展论坛”在上海虹桥新华联索菲特大酒店盛大开幕。此次大会的举办,不仅体现了国家对半导体产业的高度重视,也彰显了行业内外对于技术创新与产业升级的迫切需求。

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得益于国家中心、行业协会及媒体等多方助力筹备,复旦大学等机构保障专业性,协办单位与媒体积极参与,共促大会圆满举行。大会内容丰富多元,大咖云集共谋发展。覆盖半导体检测全领域,多种形式展现最新进展。大咖与名企代表齐聚,分享前沿成果,促进交流合作,共推技术创新与产业升级。

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作为金牌赞助商——铭剑电子在“2024中国检测技术与半导体应用大会暨半导体分析检测仪器与设备发展论坛”上携桌面式射频Soc测试机E6400、频率扩展器、手动探针台也有精彩亮相,彰显其在射频芯片测试设备领域的深厚实力和创新能力,也为中国半导体检测技术的发展注入了新的活力。

铭剑电子研发部副部长张建先生在会议中所做的《射频芯片测试挑战与设备进展》报告,深刻剖析了当前5G/6G、WiFi7等高速通信技术发展背景下,射频芯片测试设备所面临的新挑战与机遇。

TeraSight®E6400测试机具有极强的扩展性,频率可以覆盖10MHz-110GHz,具备扩展到500GHz的能力,同时可以支持数字测试、模拟测试能力。矢量调制带宽和模拟采样可以扩展至2GHz。

此次大会的成功举办,不仅展示了中国半导体检测技术的最新成果和实力,也为行业内外搭建了一个交流合作的平台。相信在各方共同努力下,中国半导体检测技术将不断取得新的突破和进展,为推动我国半导体产业的持续健康发展做出更大的贡献。


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